Opis
Przedstawiamy wyjątkową publikację – Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych, czyli kompendium poświęcone tematyce metrologii i analizie powierzchni. Publikacja powstała dzięki kilkudziesięcioletniemu doświadczeniu w przemyśle oraz dokonaniom badawczym i naukowym jej Autora – profesora dr. hab. Stanisława Adamczaka profesora Politechniki Świętokrzyskiej oraz byłego (dwukrotnego) rektora tejże uczelni. Autor w swojej książce przede wszystkim odnosi się do praktyki przemysłowej, publikacja jest więc bogata w treści przydatne w pracy inżynierskiej, zawiera bardzo dużo ilustracji oraz przykładów zastosowań opisywanych rozwiązań w praktyce. Misją autora Metrologii geometrycznej powierzchni technologicznych było przedstawienie najbardziej aktualnych treści dotyczących metrologii – dotyczy to w szczególności najnowszych dokumentów normalizacyjnych, najnowocześniejszych narzędzi dostępnych metrologom, a także wykorzystaniu udoskonalonej technologii czy oprogramowaniu. W publikacji tej Czytelnik będzie mógł przeczytać m.in. o: - skomputeryzowanych systemach pomiarowych, - tolerancjach geometrycznych, - zarysach walcowości, prostoliniowości, płaskości, kulistości - ocenie falistości oraz mikro- i nanochropowatości powierzchni. Publikacja kierowana jest przede wszystkim do metrologów, technologów oraz konstruktorów urządzeń i aparatury pomiarowej, pracowników służb kontrolno-pomiarowych i utrzymania ruchu, przemysłu maszynowego i branż pokrewnych czy specjalistów projektowania przemysłowego. Z uwagi na przedstawioną tematykę książka nadaje się również jako lektura dla studentów I i II stopnia kierunków technicznych typu mechanika i budowa maszyn, inżynieria produkcji i materiałowa czy mechatronika, elektrotechnika, inżynieria medyczna czy logistyka.