Opis
Książka dotyczy przetworników A/C typu Nyquista. Poruszono w niej zagadnienia związane z właściwościami przetworników, ich opisem i badaniem. Zarówno opis, jak i metody badania tych właściwości są uniwersalne – ich stosowalność nie zależy od zasady działania (struktury) przetworników. Przedstawiono cyfrowe metody badania przetworników A/C oparte na cyfrowym przetwarzaniu sygnałów. Książka nie dotyczy zagadnień związanych z technologią i działaniem poszczególnych typów tych przetworników. Przetworniki A/C są elementami powszechnie wykorzystywanymi w urządzeniach i systemach elektronicznych, profesjonalnych i nieprofesjonalnych, jednostkowego i powszechnego użytku. Urządzenia i systemy, w których stosowane są rozwiązania techniczne oparte na konwersji a-c, mają w większości przypadków przewagę nad urządzeniami i systemami opartymi na rozwiązaniach analogowych i dlatego stały się dominujące. Spis treściWykaz skrótów i oznaczeń 5 1. Wstęp 7 2. Podstawowe zagadnienia związane z uzyskiwaniem informacji o właściwościach przetworników A/C 10 3. Lokalizacja przetworników A/C w systemach z konwersją a-c 14 3.1. Lokalizacja przetworników A/C w układach czujnikowych 14 3.2. Lokalizacja przetworników A/C w systemach o funkcjach definiowanych programowo 15 4. Charakterystyka we-wy przetwornika A/C 17 4.1. Charakterystyka idealna 17 4.2. Charakterystyka rzeczywista 21 4.2.1. Liniowa reprezentacja charakterystyki we-wy przetwornika A/C 21 4.2.2. Liniowa reprezentacja charakterystyki we-wy idealnego przetwornika A/C 21 4.2.3. Liniowa reprezentacja charakterystyki we-wy rzeczywistego przetwornika A/C z błędem przesunięcia lub wzmocnienia 21 4.2.4. Liniowa reprezentacja charakterystyki we-wy rzeczywistego przetwornika A/C z błędami przesunięcia, wzmocnienia i nieliniowości 23 5. Zasady badania przetworników A/C 30 5.1. Zasady ogólne 30 5.2. Sygnał testujący 30 5.2.1. Sygnał stały 30 5.2.2. Sygnały zmienne o równomiernym rozkładzie wartości 31 5.2.3. Sygnał sinusoidalny 32 5.2.4. Uwagi o stosowaniu zmiennych sygnałów testujących 34 5.3. Struktura systemu do badania przetworników A/C 35 5.4. Strategia próbkowania – próbkowanie koherentne i quasi-koherentne 37 5.5. Jitter źródła sygnału wejściowego i sygnału zegarowego 39 5.6. Ocena różnicy wartości parametru SNR przy niewystępowaniu i występowaniu jitteru. Dobór filtrów pasmowych 40 5.7. Minimalna liczba próbek w próbkowaniu koherentnym i quasi-koherentnym 41 6. Metoda typu p badania przetworników A/C 46 7. Metoda typu t badania przetworników A/C 50 7.1. Wprowadzenie 50 7.2. Charakterystyka metody 50 7.3. Algorytm dla modelu 3-parametowego 51 7.4. Algorytm dla modelu 4-parametrowego 52 7.5. Estymowane parametry 54 7.6. Cechy metody dynamicznej typu t 55 8. Metoda typu f badania przetworników A/C 56 8.1. Zasady ogólne 56 8.2. Opis metody 56 8.3. Interpretacja widma sygnału na wyjściu przetwornika A/C – skojarzenie elementów widma z rodzajami zniekształceń sygnału 57 8.4. Estymowane parametry 58 8.5. Interpretacja wyników DFT sygnału na wyjściu przetwornika A/C i ich zastosowanie do estymacji parametrów 62 8.6. Związek rozmiaru FFT z rozróżnialnością elementów w widmie sygnału wyjściowego z przetwornika A/C 65 8.7. Cechy metody dynamicznej typu f 67 9. Modyfikacja charakterystyki we-wy przetwornika A/C – kwantowanie z sygnałem ditherowym 69 9.1. Zasada i cele konwersji a-c z sygnałem ditherowym 69 9.2. Randomizacja i redukcja błędu kwantowania 72 9.3. Efekt rozróżnialności wartości pośrednich i efekt likwidacji nieciągłości charakterystyki we-wy przetwornika A/C 75 9.4. Równorzędność kwantowania z sygnałem ditherowym i nadpróbkowania oceniana na podstawie kryterium SNR 80 Literatura 83